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dc.contributor.authorSellami, L.-
dc.contributor.authorZerkani, H.-
dc.contributor.otherAuteur; Arfi, F., Directeur de thèse-
dc.date.accessioned2021-01-18T08:36:36Z-
dc.date.available2021-01-18T08:36:36Z-
dc.date.issued1984-
dc.identifier.otherPN05684-
dc.identifier.urihttp://repository.enp.edu.dz/xmlui/handle/123456789/6227-
dc.descriptionMémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, École Nationale Polytechnique : 1984fr_FR
dc.description.abstractL'objectif du travail est d’écrire et de programmer un algorithme de détection de pannes dans les instruments de mesure.Nous aurons à développer une approche du IFD pour des processus continus, linéaires, stationnaires et déterministes en utilisant les observateurs réduits de LUENBERGER. Nous essayerons de compléter ce travail en considérant le cas de variations infinitésimales des paramètres du processus. L'étude que nous allons entamer comportera quatre parties. Dans le premier chapitre, nous avons jugé utile de donner les notions essentielles de la théorie de l'observateur. Le second chapitre traite la méthode analytique de détection de pannes ainsi que son algorithme. Les programmes et les principaux organigrammes des subroutines sont présentés dans le troisième chapitre. Enfin, nous consacrerons le dernier chapitre à la simulation.fr_FR
dc.language.isofrfr_FR
dc.subjectObservabilitéfr_FR
dc.subjectDétection de pannesfr_FR
dc.subjectInstruments de mesurefr_FR
dc.subjectOrganigramme -- Programme -- Simulationfr_FR
dc.titleDétection de pannes d'instruments de mesure par redondance analytiquefr_FR
dc.typeThesisfr_FR
Collection(s) :Département Electronique

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