Veuillez utiliser cette adresse pour citer ce document :
http://repository.enp.edu.dz/jspui/handle/123456789/7239
Affichage complet
Élément Dublin Core | Valeur | Langue |
---|---|---|
dc.contributor.author | Titi, Oussama | - |
dc.contributor.other | Namane, Dalila, Directeur de thèse | - |
dc.date.accessioned | 2021-01-28T08:35:28Z | - |
dc.date.available | 2021-01-28T08:35:28Z | - |
dc.date.issued | 2012 | - |
dc.identifier.other | Ms02312A | - |
dc.identifier.uri | http://repository.enp.edu.dz/xmlui/handle/123456789/7239 | - |
dc.description | Mémoire de Master: Electrotechnique: Alger, Ecole Nationale Polytechnique: 2012 | fr_FR |
dc.description.abstract | Dans ce travail, nous nous sommes intéressés au comportement et à la caractérisation d’un modèle d’isolateur de géométrie simple. L’étude consiste principalement à établir la capacité qu’il présente en fonction de nombreux paramètres électrogéométriques, à l’état propre puis pollué. Nous étudions en outre, le degré d’influence des conducteurs parasites sur la capacité, selon leur disposition et leur rapprochement du modèle étudié. Notre étude est basée sur l’analyse de la répartition de charge (utilisant le logiciel de calcul de champ FEMM 4.0) pour l'interprétation des résultats simulés. | fr_FR |
dc.language.iso | fr | fr_FR |
dc.subject | Haute tension | fr_FR |
dc.subject | Isolateur | fr_FR |
dc.subject | Pollution | fr_FR |
dc.subject | Capacité | fr_FR |
dc.subject | Diélectrique | fr_FR |
dc.subject | Simulation | fr_FR |
dc.subject | Conducteurs parasites | fr_FR |
dc.subject | Ligne de fuite | fr_FR |
dc.subject | Electrodes | fr_FR |
dc.subject | Profil FEMM4.0 | fr_FR |
dc.title | Etude numérique comparative des différents modèles d'isolateur, en présence de conducteurs parasites, sous tension alternative 50 Hz | fr_FR |
dc.type | Thesis | fr_FR |
Collection(s) : | Département Electrotechnique |
Fichier(s) constituant ce document :
Fichier | Description | Taille | Format | |
---|---|---|---|---|
TITI.Oussama.pdf | Ms02312 | 1.77 MB | Adobe PDF | Voir/Ouvrir |
Tous les documents dans DSpace sont protégés par copyright, avec tous droits réservés.