Abstract:
Dans ce travail, nous nous sommes intéressés à l'étude du vieillissement des systèmes d’isolation électrique. Pour cela, des éprouvettes torsadées normalisées de fils émaillés en cuivre de 1,25 mm et 0,5 mm de diamètre, ont été utilisées. Pour chaque éprouvette, la tension d'apparition des décharges partielles (TADP) a été relevée à fréquence industrielle. Par la suite, le vieillissement a été réalisé en appliquant la tension de claquage. Par ailleurs, les variations d’autres indicateurs de ce vieillissement, constituant en la capacité, la résistance et le facteur de dissipation, ont été suivies sur une large plage de fréquences, et ce, avant et après vieillissement. En outre, une analyse microscopique a été réalisée pour détecter les changements internes et de surface du système d’isolation électrique après vieillissement. Enfin, une corrélation entre ces indicateurs et la durée de vie, suivie d’une prédiction de cette dernière à l’aide de l’intelligence artificielle, a été établie. Pour cela, deux modèles intelligents, à savoir le SVR et XGBoost, ont été utilisés.
