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Titre: Etude et qualification des convertisseurs analogique-digital en haute température
Auteur(s): Toumi, Mohamed Seghir Hamza
Hamami, Latifa, Directeur de thèse
Mots-clés: Analogiques-numérique CAN ADC -- Convertisseurs
Température -- Tests
Electronique en haute température
Performance des CAN EOB
Cartes d’évaluation
Technologie
Forages pétroliers ADS1244 THS1030 AD7690
Date de publication: 2007
Résumé: Ce mémoire a été effectué au sein de Schlumberger, compagnie de services pétroliers, qui utilise l’électronique dans des conditions sévères en termes de pression et de température. Nous nous sommes intéressés à l’influence de la température sur les convertisseurs analogique-numérique, en étudiant les phénomènes sévissant en haute température. Nous nous sommes, pour cela, initiés aux convertisseurs analogique-numérique, et aux différents procédés de qualification de ces derniers. Nous avons montré différentes techniques permettant la détermination des caractéristiques des ADC, dont les plus importantes sont: la résolution « ENOB », la vitesse de conversion, et la consommation. Et ce, pour trois ADC de familles et de caractéristiques différentes. En mettant en évidence tous les moyens utilisés, du point de vue matériel: cartes d’évaluations, appareillages de mesure et dispositifs de set up, et du point de vue logiciel: les protocoles de transfert de données et programmes en C, en VHDL et MATLAB, utilisés pour le traitement et le transfert des données. Nous avons finalement constaté que l’influence de la température était loin d’être négligeable, et son importance dépendait de la technologie du composant, comme l’ont montré les tests effectués sur les convertisseurs: ADS1244 de Texas Instruments, le THS1030 de Texas Instruments et l’AD7690 d’Analog Devices.
Description: Mémoire de Projet de Fin d'Etudes: Electronique: Alger, Ecole Nationale Polytechnique: 2007
URI/URL: http://repository.enp.edu.dz/xmlui/handle/123456789/3596
ISSN: PN01307
Collection(s) :Département Electronique

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