Abstract:
Ce mémoire a été effectué au sein de Schlumberger, compagnie de services pétroliers, qui utilise l’électronique dans des conditions sévères en termes de pression et de température.
Nous nous sommes intéressés à l’influence de la température sur les mémoires Flash, en étudiant les phénomènes sévissant en haute température.
Nous nous sommes pour cela, initiés aux différentes mémoires existantes sur la marché, et aux différents procédés de qualification de ces dernières.
Nous avons pu mette en évidence les différentes caractéristiques des mémoires permettant de choisir celle qui est plus adaptées à nos spécifications.
Le choix final avait porté sur une mémoire Nand, SLC de 4Gbits et 57nm qui a été étudiée en détails.
Nous avons aussi mis en évidence tous les moyens utilisés, du point de vue matériel: cartes d’évaluations, appareillages de mesure et dispositifs de set up, et du point de vue logiciel: le protocole de transfert des données utilisés pour le transfert des données et des programmes en VHDL utilisés pour contrôler la mémoires.
Nous avons finalement constaté que l’influence de la température était loin d’être négligeable, et son importance dépendait fortement de la technologie du composant, comme l’ont montré les tests effectués sur la mémoire de Hynix HY27UF084G2B.
