Abstract:
Dans ce travail on considère le problème de détection et localisation de défauts pour une classe générale de systèmes linéaires dépendant de paramètres: les systèmes linéaires structurés. A partir de l’analyse structurelle on peut facilement, sur ce procédé ayant un défaut et une perturbation, montrer qu’un capteur supplémentaire est nécessaire pour résoudre le problème de diagnostic considéré, indépendamment de la valeur des paramètres du système. L’analyse du graphe associé au système permet de déterminer les variables que le capteur doit mesurer.
