Dans ce travail on expose les spécificités du problème de test des circuits intégrés (LSI et VLSI) entrants dans la constitution des micro-ordinateurs.
On donne par la suite quelques méthodes utilisées pour le test de ce type de circuit.
Description:
Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, École Nationale Polytechnique : 1985
