Méthodes de test d'une famille de micro-ordinateur
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Abstract
Dans ce travail on expose les spécificités du problème de test des circuits intégrés (LSI et VLSI) entrants dans la constitution des micro-ordinateurs.
On donne par la suite quelques méthodes utilisées pour le test de ce type de circuit.
Description
Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, École Nationale Polytechnique : 1985