Méthodes de test d'une famille de micro-ordinateur
| dc.contributor.author | Boutria, Mohamed | |
| dc.contributor.author | Soufi, Messaoud | |
| dc.contributor.other | Kaminska, B., Directeur de thèse | |
| dc.date.accessioned | 2021-01-17T10:00:03Z | |
| dc.date.available | 2021-01-17T10:00:03Z | |
| dc.date.issued | 1985 | |
| dc.description | Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, École Nationale Polytechnique : 1985 | fr_FR |
| dc.description.abstract | Dans ce travail on expose les spécificités du problème de test des circuits intégrés (LSI et VLSI) entrants dans la constitution des micro-ordinateurs. On donne par la suite quelques méthodes utilisées pour le test de ce type de circuit. | fr_FR |
| dc.identifier.other | PN01785 | |
| dc.identifier.uri | https://repository.enp.edu.dz/handle/123456789/6120 | |
| dc.language.iso | fr | fr_FR |
| dc.subject | Circuits Intégrés | fr_FR |
| dc.subject | Test -- Mémoires | fr_FR |
| dc.subject | Test -- Microprocesseurs | fr_FR |
| dc.title | Méthodes de test d'une famille de micro-ordinateur | fr_FR |
| dc.type | Thesis | fr_FR |
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