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dc.contributor.authorDjeddou, Nesrine-
dc.contributor.otherMorganti, Fabrice, Directeur de thèse-
dc.contributor.otherDuchesne, Stéphane, Directeur de thèse-
dc.contributor.otherTeguar, Madjid, Directeur de thèse-
dc.date.accessioned2024-10-06T13:16:15Z-
dc.date.available2024-10-06T13:16:15Z-
dc.date.issued2024-
dc.identifier.otherEP00759-
dc.identifier.urihttp://repository.enp.edu.dz/jspui/handle/123456789/11005-
dc.descriptionMémoire de Projet de Fin d’Études : Électrotechnique : Alger, École Nationale Polytechnique : 2024fr_FR
dc.description.abstractDans ce travail, nous nous sommes intéressés à l'étude du vieillissement des systèmes d’isolation électrique. Pour cela, des éprouvettes torsadées normalisées de fils émaillés en cuivre de 1,25 mm et 0,5 mm de diamètre, ont été utilisées. Pour chaque éprouvette, la tension d'apparition des décharges partielles (TADP) a été relevée à fréquence industrielle. Par la suite, le vieillissement a été réalisé en appliquant la tension de claquage. Par ailleurs, les variations d’autres indicateurs de ce vieillissement, constituant en la capacité, la résistance et le facteur de dissipation, ont été suivies sur une large plage de fréquences, et ce, avant et après vieillissement. En outre, une analyse microscopique a été réalisée pour détecter les changements internes et de surface du système d’isolation électrique après vieillissement. Enfin, une corrélation entre ces indicateurs et la durée de vie, suivie d’une prédiction de cette dernière à l’aide de l’intelligence artificielle, a été établie. Pour cela, deux modèles intelligents, à savoir le SVR et XGBoost, ont été utilisés.fr_FR
dc.language.isofrfr_FR
dc.subjectVieillissementfr_FR
dc.subjectIsolation électriquefr_FR
dc.subjectEprouvette torsadéefr_FR
dc.subjectIndicateurs de vieillissementfr_FR
dc.subjectCorrélationfr_FR
dc.subjectDurée de viefr_FR
dc.subjectPrédictionfr_FR
dc.subjectIntelligence artificiellefr_FR
dc.titleVieillissement des systèmes d’isolation électrique : expérimentation et prédiction à l’aide de l’IAfr_FR
dc.typeThesisfr_FR
Collection(s) :Département Electrotechnique

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