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http://repository.enp.edu.dz/jspui/handle/123456789/6120| Titre: | Méthodes de test d'une famille de micro-ordinateur |
| Auteur(s): | Boutria, Mohamed Soufi, Messaoud Kaminska, B., Directeur de thèse |
| Mots-clés: | Circuits Intégrés Test -- Mémoires Test -- Microprocesseurs |
| Date de publication: | 1985 |
| Résumé: | Dans ce travail on expose les spécificités du problème de test des circuits intégrés (LSI et VLSI) entrants dans la constitution des micro-ordinateurs. On donne par la suite quelques méthodes utilisées pour le test de ce type de circuit. |
| Description: | Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, École Nationale Polytechnique : 1985 |
| URI/URL: | http://repository.enp.edu.dz/xmlui/handle/123456789/6120 |
| Collection(s) : | Département Electronique |
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| Fichier | Description | Taille | Format | |
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| BOUTRIA.Mohamed_SOUFI.Messaoud.pdf | PN01785 | 13.52 MB | Adobe PDF | Voir/Ouvrir |
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