Fiabilité des systèmes VLSI

Belaifa, Salah Salim

dc.contributor.author	Belaifa, Salah Salim
dc.contributor.other	Farah, Ahcene, Directeur de thèse
dc.date.accessioned	2021-01-03T10:29:24Z
dc.date.available	2021-01-03T10:29:24Z
dc.date.issued	1998
dc.identifier.other	PN01098
dc.identifier.uri	http://repository.enp.edu.dz/xmlui/handle/123456789/4337
dc.description	Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, École Nationale Polytechnique: 1998	fr_FR
dc.description.abstract	Ce travail comporte deux parties: * La première partie a pour but de donner les fondements de base de la fiabilité, test, et vérification des circuits intégrés en particulier les systèmes VLSI. * La deuxième partie consiste à réaliser un logiciel de simulation des méthodes de tests et de vérifications. L'objectif essentiel est de vérifier la fonctionnalité d'un circuit intégré en un temps optimal (gain en temps), en utilisant différentes méthodes et techniques de vérifications	fr_FR
dc.language.iso	fr	fr_FR
dc.subject	Circuit intégré	fr_FR
dc.subject	Système VLSI	fr_FR
dc.subject	Temps optimal	fr_FR
dc.title	Fiabilité des systèmes VLSI	fr_FR
dc.title.alternative	test, testabilité et vérification des machines séquentielles	fr_FR
dc.type	Thesis	fr_FR