Méthodes de test d'une famille de micro-ordinateur

Boutria, Mohamed; Soufi, Messaoud

dc.contributor.author	Boutria, Mohamed
dc.contributor.author	Soufi, Messaoud
dc.contributor.other	Kaminska, B., Directeur de thèse
dc.date.accessioned	2021-01-17T10:00:03Z
dc.date.available	2021-01-17T10:00:03Z
dc.date.issued	1985
dc.identifier.other	PN01785
dc.identifier.uri	http://repository.enp.edu.dz/xmlui/handle/123456789/6120
dc.description	Mémoire de Projet de Fin d’Études : Électronique : Alger, École Nationale Polytechnique : 1985	fr_FR
dc.description.abstract	Dans ce travail on expose les spécificités du problème de test des circuits intégrés (LSI et VLSI) entrants dans la constitution des micro-ordinateurs. On donne par la suite quelques méthodes utilisées pour le test de ce type de circuit.	fr_FR
dc.language.iso	fr	fr_FR
dc.subject	Circuits Intégrés	fr_FR
dc.subject	Test -- Mémoires	fr_FR
dc.subject	Test -- Microprocesseurs	fr_FR
dc.title	Méthodes de test d'une famille de micro-ordinateur	fr_FR
dc.type	Thesis	fr_FR